微細化が進む半導体の製造において、微粒子汚染が歩留まりや品質に与える影響は小さくありません。適切な管理が求められおり、パーティクルカウンターを使用したモニタリングは非常に有効です。パーティクルカウンターを使用する利点について理解を深めていただくために、その原理や効果的な使用方法を解説するオンラインセミナーを開催いたします。
本セミナーは微粒子測定の基礎的なポイントを理解したい方、おさらいをしたい方を対象としています。事例を交えてわかりやすく説明いたします。
オンライン開催ですのでインターネット接続が可能な環境であれば、どこからでもご参加いただけます（使用ツール：GoToWebinar）。以下の開催要領をご覧のうえ、ぜひご参加ください。
- 講座内容
- パーティクルカウンターの基本原理と仕組み
- さまざまな測定対象と目的に応じた測定方法
- 対象： 微粒子測定の基礎的なポイントを理解したい方、おさらいをしたい方
- 開催日時： いずれの時間も同じ内容です。1時間程度を予定しています。
- 2025年12月24日(水) 午前10時
- 2025年12月24日(水) 午後3時
- 受講料： 無料
- 申込方法： 以下のうちご希望の時間をクリックしてください。その時間専用の参加登録ページが表示されますのでお名前、メールアドレスなどをご入力ください。
- 参加方法
お申し込み後に送付されるEメール内の「システム要件をチェック」をクリックして、本セミナーに使用するGoToWebinarが動作可能か事前にご確認ください。
セミナー当日は、同Eメール内の参加ボタンをクリックしてください。 - お問い合わせ
本セミナー事務局（担当：池田）へ Eメール（yikeda@pmeasuring.com） でお問い合わせください。
ご参加を心よりお待ちしております。なお同業他社のご参加はご遠慮ください。